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OSP镀层测厚仪OSPrey800
    

英国牛津仪器公司-工业分析部

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OSPrey800OSP镀层测厚仪

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公司名称:

英国牛津仪器公司-工业分析部 
发布日期: 2008-7-22 
所 在 地: 英国 
已获点击: 226次
简单介绍:  
OSPrey800@仪器利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。无需准备样品,可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。 
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【详细说明】

OSPrey800@仪器利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。无需准备样品,可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。

 

OSPrey800@仪器在检测过程中不会对PCB/PWB板产生不利影响。通过进行PCB/PWB上OSP镀层厚度的定量、完整性、可靠性及膜层形态的细致分析,进而检验OSP镀层的应用可靠性。

 

检测可在OSP镀层的生命周期的不同阶段进行,使用户可以通过监控OSP镀层形成和储藏过程中产生的不良变化对工艺进行必要的调整。例如,可以在PCB/PWB生命周期的不同阶段检测OSP镀层的厚度以预测在后续的工艺过程中由于OSP镀层的可焊性变化而对工艺产生的影响。

 

产品特色:

  • 无损实时检测
  • 不再使用检验铜箔,无需样品制备
  • 超小检测点
  • 二维图象分析功能
  • 可在粗糙表面测量OSP镀层厚度
  • 人性化操作流程设计
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